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  • HT-648霍爾效應測試儀

    霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。利用霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)合測量,霍爾效應測試儀可以用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導率溫度的變化,可以確定半導體的禁帶寬度、雜質(zhì)電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。

    更新時間:2019-01-20
    產(chǎn)品型號:HT-648
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